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在電子器件高新技術應用場景中，大規(guī)模的集成電路封裝得到了普遍的重視，當中有一些大規(guī)模的集成電路封裝基于其功能巨大，與外部的連線數(shù)目最多的多達數(shù)百根，在幾個平方厘米至幾十平方厘米的芯片底面上，有規(guī)則地分布著密麻麻的連接線節(jié)點。

這類連接線多而密的表面貼片元器件安裝與pcb板上構成具有相應功能的應用電路。在這個情況下，元器件與pcb板的節(jié)點，除周邊外面看得出之外其他均沒法用人眼觀察到即不可目視點焊。但在實際的生產(chǎn)實踐中不同節(jié)點的質(zhì)量狀況沒辦法做到完美無缺，每一個點焊都能夠存在各種各樣的鑄造缺陷（如橋連、虛焊、焊球、不能充分潤濕等）的可能性，這將嚴重影響到使用電路的穩(wěn)定性，如發(fā)生橋連瑕疵便會使電路沒法達到其設計功能甚至是沒辦法測試運行。

基于這類肉眼看不出來的，選用光學顯微鏡、目視、激光紅外線等檢測方法均束手無策，所以要想了解這類電路在電焊焊接后的真實情況，需選用具有穿透非透明物質(zhì)能力的X射線檢查方法來進行檢測。X射線具有很強的穿透性，X射線透視圖可以清楚的表明點焊薄厚，形狀及質(zhì)量的彌補分布，能充分體現(xiàn)出點焊的電焊焊接質(zhì)量，并能做到定量分析。

        普遍的難題主要有：球珊陣列元器件BGA浸潤缺陷、內(nèi)部結構裂紋、斷層，空洞、連錫、少錫，復雜精密組裝部件中的壞件、移位、隱藏原件，pcb線路板開路/短路、電子元件失效等。

這類難題，憑借X-Ray無損檢測技術，對半導體封裝元器件內(nèi)部結構物理結構表征、缺陷檢測與分析及失效分析等難題都能夠得出很好的解釋，滿足高端電子器件制造技術上的檢測需求，幫助改進生產(chǎn)工藝技術，很大程度提升了合格率。

BGA元器件在電焊焊接結束后，基于其點焊全被元器件本體所覆蓋，所以既沒法選用傳統(tǒng)的目測方法觀察檢測全部點焊的電焊焊接質(zhì)量，也不能應用自動光學檢測設備對點焊的外觀做質(zhì)量評判。為達到有效的檢測，可選用X-ray檢測設備對BGA元器件的點焊進行檢測。

       BGA元器件點焊瑕疵主要有焊料橋連、焊錫珠、孔洞、移位、開路、焊料球遺失、電焊焊接連接處破裂、虛焊等。這類隱藏在內(nèi)部結構的瑕疵，最終對電子設備的使用壽命、穩(wěn)定性產(chǎn)生不可估量的。

隨著創(chuàng)新技術的發(fā)展,超高分辨率、自動化的X-ray檢測設備不但會為BGA元器件組裝提供省時、省心、可靠的保障,也可以在電子設備常見故障分析中扮演關鍵的角色,提升常見故障清查效率。

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