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工業(yè)CT技術不受被檢測物體材料、形狀、表面狀況等限制,能夠給出被檢測物體二維、三維圖像,成像 直觀,分辨率高。因此,工業(yè)CT被廣泛應用在我國汽車制造、鑄件、交通等領域,應用范圍涵蓋缺陷檢測、材料密度表征、尺寸測量、裝配結構分析、逆向工程等。隨著工業(yè)CT技術在高端裝備制造業(yè)中的應用和發(fā)展,精密復雜零部件的內部缺陷檢測需求日益增加,對缺陷的檢出尺度及測量精度要求極高。

目前國內外正積極開展工業(yè)CT三維精密測量技術研究。在工業(yè)CT尺寸測量應用研究方面，Kiekens等對影響工業(yè)CT系統(tǒng)測量值誤差進行了研究，Van Bael等將工業(yè)CT應用于多孔結構幾何形狀控制，計算孔結構尺寸、壁厚、結構體積等幾何信息，完成產品幾何形狀的控制。在尺寸測量精度方面，GE公司通過紅寶石球進行驗證實驗，并采用散射線補償?shù)姆椒ㄌ岣邷y量精度，**可達(4+L/100) μm。在測量標準方面，德國《VDI/VDE 2630工業(yè)CT尺寸測量》系列標準，包含了原理與術語、測量影響因素與建議、尺寸測量應用指南、測量過程及比較、測量不確定度等方面。國內工業(yè)CT技術主要應用于無損檢測領域，在幾何量測量和計量化應用方面起步較晚。工業(yè)CT測量技術的需求主要來源于產品尺寸檢驗，王義旭等針對工業(yè)CT探測尺寸誤差進行了校準和分析。在國內公開的標準方面，涉及工業(yè)CT結構尺寸測量的相關標準僅有GB/T 29067-2012 《無損檢測工業(yè)計算機層析成像(CT)圖像測量方法》。同時，目前可參考的國內外文獻及標準，鮮有針對小尺寸薄壁結構的測量誤差進行特別說明。

對于金屬材料內部不規(guī)則形貌缺陷的工業(yè)CT無損檢測,當前普遍采用半高寬缺陷尺寸計算法,檢測人員通過觀察及經驗判定缺陷位置,人為分割缺陷邊緣。該方法適用于尺度遠大于CT圖像像素尺寸的缺陷評價,但當缺陷尺寸接近或小于像素尺寸時,檢測人員判定的缺陷測量及評價結果存在很大誤差,由此會產生“超標”誤判,造成不必要的浪費。因此在金屬材料工業(yè)CT檢測過程中,有必要研究一種適用不同CT設備及工藝參數(shù)的缺陷精確測量方法。

為了進一步驗證半高寬法和最大灰度梯度法對不同厚度薄壁結構的測量誤差，陳子木、胡正偉等教授分別通過理論計算以及實驗測量的圖像灰度分布進行尺寸分析，得到的壁厚測量結果可以看出對于理論計算的薄壁結構灰度分布，當壁厚尺寸大于線擴散函數(shù)擴展寬度時，半高寬法和最大梯度法的測量誤差均小于±0.01 mm；當壁厚尺寸小于線擴散函數(shù)擴展寬度但大于壁厚測量極限值時，最大灰度梯度法具有更小的測量誤差；當壁厚尺寸小于壁厚測量極限時，測量誤差顯著增大，隨著薄壁結構厚度減小，半高寬法和最大梯度法的壁厚測量值均趨近于壁厚測量極限，這也與上述的解析分析相一致。但對于實驗測量的壁厚尺寸，當實際壁厚大于壁厚測量極限值時，半高寬法相比最大灰度梯度法一直具有更小的測量誤差，對于本工作采用的工業(yè)CT成像系統(tǒng)，半高寬法尺寸測量誤差小于±0.04 mm，最大灰度梯度法尺寸測量誤差小于±0.08 mm，這主要是由于灰度梯度的計算較灰度極值更為靈敏，因此受系統(tǒng)噪聲影響明顯。隨著薄壁結構尺寸減小至小于壁厚測量極限，半高寬法和最大灰度梯度法尺寸實驗測量結果依然呈單調下降的趨勢，測量誤差顯著增大，但此時最大灰度梯度法的測量誤差相比半高寬法較小。隨著薄壁結構厚度減小，成像調制度下降導致受系統(tǒng)噪聲的影響程度大幅增加，采用半高寬法和最大灰度梯度法計算壁厚均會產生嚴重的誤差，因此與理論推導的結果產生較大偏差。對比實驗測量結果和理論計算結果發(fā)現(xiàn)，當薄壁結構尺寸大于壁厚測量極限時，兩者具有較好的一致性，當薄壁結構尺寸小于壁厚測量極限時，理論計算結果趨近于某個固定值。雖然實驗測量結果依然能夠保持尺寸減小的趨勢，但是測量誤差逐漸增大。

對于工業(yè)CT尺寸測量的精度，也是很多客戶非常關注的問題，一般來說在工業(yè)CT設備條件允許的情況下，通過探元尺寸、探測器尺寸、工件尺寸可獲得工件的工業(yè)CT檢測精度。

以上檢測精度的評估是對于簡單工件而言，如果要對工件的局部區(qū)域進行檢測，則需視工件情況選擇工件擺放方式，以及檢測方法，檢測精度則以現(xiàn)場測試結果為主。